Ieee Transactions On Reliability
期刊简称:IEEE T RELIAB
期刊ISSN:0018-9529
是否开源:No
是否SCI:SCIE
出版地:UNITED STATES
审稿周期:Quarterly
创刊年份:1963
研究方向:工程技术
所在分区:3区
Ieee Transactions On Reliability杂志简介
《Ieee Transactions On Reliability》是一本由IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ENGINEERS INC出版商出版的专业工程技术期刊,该刊创刊于1963年,刊期Quarterly,该刊已被国际权威数据库SCIE收录。在中科院最新升级版分区表中,该刊分区信息为大类学科:计算机科学 2区,小类学科:计算机:硬件 2区;计算机:软件工程 2区;工程:电子与电气 2区;在JCR(Journal Citation Reports)分区等级为Q1。该刊发文范围涵盖计算机:硬件等领域,旨在及时、准确、全面地报道国内外计算机:硬件工作者在该领域取得的最新研究成果、工作进展及学术动态、技术革新等,促进学术交流,鼓励学术创新。2021年影响因子为5.883,平均审稿速度约4.5个月。Ieee Transactions On ReliabilityJCR分区(JCR2021-2022年分区)
JCR分区等级 | JCR所属学科 | 分区 | 影响因子 |
Q1 | COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE | Q1 | 5.883 |
COMPUTER SCIENCE, SOFTWARE ENGINEERING | Q1 | ||
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | Q1 |
Ieee Transactions On Reliability期刊近7年影响因子变化趋势