Microelectronics Reliability
期刊简称：MICROELECTRON RELIAB
期刊ISSN：0026-2714
是否开源：No
是否SCI：SCI、SCIE
出版地：ENGLAND
审稿周期：Monthly
创刊年份：1964
研究方向：工程技术
所在分区：4区
Microelectronics Reliability杂志简介
《Microelectronics Reliability》是一本由PERGAMON-ELSEVIER SCIENCE LTD出版商出版的专业工程技术期刊，该刊创刊于1964年，刊期Monthly，该刊已被国际权威数据库SCI、SCIE收录。在中科院最新升级版分区表中，该刊分区信息为大类学科：工程技术 4区，小类学科：工程：电子与电气 4区；纳米科技 4区；物理：应用 4区；在JCR（Journal Citation Reports）分区等级为Q4。该刊发文范围涵盖工程：电子与电气等领域，旨在及时、准确、全面地报道国内外工程：电子与电气工作者在该领域取得的最新研究成果、工作进展及学术动态、技术革新等，促进学术交流，鼓励学术创新。2021年影响因子为1.418，平均审稿速度较快,2-4周。Microelectronics ReliabilityJCR分区(JCR2021-2022年分区)
| JCR分区等级 | JCR所属学科 | 分区 | 影响因子 |
| Q4 | NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY | Q4 | 1.418 |
| PHYSICS, APPLIED | Q4 | ||
| ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | Q4 |
Microelectronics Reliability期刊近7年影响因子变化趋势
