Ieee Design & Test
期刊简称：IEEE DES TEST
期刊ISSN：2168-2356
是否开源：No
是否SCI：SCIE
出版地：UNITED STATES
审稿周期：6 issues/year
创刊年份：2013
研究方向：工程技术
所在分区：4区
Ieee Design & Test杂志简介
《Ieee Design & Test》是一本由IEEE Computer Society出版商出版的专业工程技术期刊，该刊创刊于2013年，刊期6 issues/year，该刊已被国际权威数据库SCIE收录。在中科院最新升级版分区表中，该刊分区信息为大类学科：工程技术 3区，小类学科：计算机：硬件 4区；工程：电子与电气 4区；在JCR（Journal Citation Reports）分区等级为Q3。该刊发文范围涵盖计算机：硬件等领域，旨在及时、准确、全面地报道国内外计算机：硬件工作者在该领域取得的最新研究成果、工作进展及学术动态、技术革新等，促进学术交流，鼓励学术创新。2021年影响因子为2.223，Ieee Design & TestJCR分区(JCR2021-2022年分区)
| JCR分区等级 | JCR所属学科 | 分区 | 影响因子 |
| Q3 | ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | Q3 | 2.223 |
| COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE | Q3 |
Ieee Design & Test期刊近7年影响因子变化趋势
