Metrology And Measurement Systems
期刊简称：METROL MEAS SYST
期刊ISSN：0860-8229
是否开源：No
是否SCI：SCIE
出版地：Poland
审稿周期：Quarterly
创刊年份：1988
研究方向：工程技术
所在分区：4区
Metrology And Measurement Systems杂志简介
《Metrology And Measurement Systems》是一本由Polish Academy of Sciences, Committee on Metrology and Scientific Instrumentation出版商出版的专业工程技术期刊，该刊创刊于1988年，刊期Quarterly，该刊已被国际权威数据库SCIE收录。在中科院最新升级版分区表中，该刊分区信息为大类学科：工程技术 4区，小类学科：仪器仪表 4区；在JCR（Journal Citation Reports）分区等级为Q4。该刊发文范围涵盖仪器仪表等领域，旨在及时、准确、全面地报道国内外仪器仪表工作者在该领域取得的最新研究成果、工作进展及学术动态、技术革新等，促进学术交流，鼓励学术创新。2021年影响因子为1.009，平均审稿速度较慢,6-12周。Metrology And Measurement SystemsJCR分区(JCR2021-2022年分区)
| JCR分区等级 | JCR所属学科 | 分区 | 影响因子 |
| Q4 | INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION | Q4 | 1.009 |
Metrology And Measurement Systems期刊近7年影响因子变化趋势
